红外光谱仪 Dimension IconIR

红外光谱仪 Dimension IconIR

产品介绍

布鲁克公司的大样本Dimension IconIR系统在一个平台上结合了纳米级红外光谱和扫描探针显微镜（SPM），为学术研究人员和工业用户提供了*先进的光谱、成像和属性测绘能力。IconIR融合了几十年的研究和技术创新，在Dimension Icon®的行业*佳AFM测量能力的基础上，提供了无*伦*的性能。该系统能够实现相关的显微镜和化学成像，具有更高的分辨率和单层灵敏度，而其独特的大样本结构为*广泛的应用提供了终*的样本灵活性。

大样本

*高性能的纳米红外光谱学

为各种样品类型和应用提供更多的灵活性和性能。

相互关联的

化学和纳米级属性图谱

提供定量的纳米化学、纳米力学和纳米电学数据。

亚10纳米

光热AFM-IR成像

实现了*高分辨率的表征，具有单层敏感性。

在单一系统中，IconIR为纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度提供*高性能。

只有Dimension IconIR能提供。

具有准确和可重复的FT-IR相关的高性能纳米红外光谱，<10纳米的化学分辨率，以及单层灵敏度

采用PeakForce Tapping®纳米力学和纳米电学模式进行相关的化学成像

*高性能的AFM成像和无可比拟的样品灵活性，具有大样品适应性*。

*广泛的协调应用附件和AFM模式的可用范围

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